روش‌های پیشرفته: مرزهای تکنولوژیکی و سیستمهای تعبیه شده (امبدد سیستم‌ها)

عنوان فارسی مقاله:روش‌های پیشرفته: مرزهای تکنولوژیکی و سیستمهای تعبیه شده (امبدد سیستم‌ها) – یک رویکرد دیداری سازی

چکیده

این فصل به اندازه‌گیری و پیش‌بینی تغییرات فن‌آوری مربوط می‌شود، موضوعی که به بسیاری از سازمان‌های با فناوری پیشرفته و مشتریان آن‌ها مرتبط است. ما مجموعه‌های داده‌های جدید و کلاسیک را از تحقیقات و فن‌سنجی تحلیل پوششی داده‌های پیش‌بینی فناوری (TFDEA) در پرتو تکنیک دیداری سازی جدید به نام جاسازی تصادفی همسایه با توزیع t (t-SNE) بازبینی می‌کنیم. این تکنیک یک تکنیک دیداری سازی غیرخطی برای حفظ ساختار محلی در فضاهای داده با ابعاد بالا است. این تکنیک ممکن است به عنوان شکلی از تجزیه و تحلیل داده‌های توپولوژیکی طبقه بندی شود. به طور خاص، هر نقطه در فضا نشان‌دهنده یک طراحی یا اجرای فناوری بالقوه است، و هر بخش خط در فضا نشان‌دهنده معیاری محلی از بهبود یا تخریب فناوری است. ما شش نوع متمایز از توسعه عملکرد در فناوری را در این فضا، از جمله مرز، تاشو، برجسته، سالیتون و قفل فرض می‌کنیم. سپس فضاها را بررسی می‌کنیم تا مشخص کنیم کدام نوع توسعه بهترین توضیح برای توسعه مشاهده شده است. این تکنیک برون یابی نیست و بنابراین نمی‌تواند به طور کامل جایگزین روش‌های فن سنجی موجود شود. با این وجود، این رویکرد یک تشخیص مفید برای روش‌های فن‌سنجی موجود ارائه می‌دهد و ممکن است به پیشبرد نظریه‌های توسعه فناوری کمک کند(مرزهای تکنولوژیکی و سیستمهای تعبیه شده).

ادامه مطلب

راهنمای خرید:

لینک دانلود فایل بلافاصله بعد از پرداخت وجه به نمایش در خواهد آمد.
همچنین لینک دانلود به ایمیل شما ارسال خواهد شد به همین دلیل ایمیل خود را به دقت وارد نمایید.
ممکن است ایمیل ارسالی به پوشه اسپم یا Bulk ایمیل شما ارسال شده باشد.
در صورتی که به هر دلیلی موفق به دانلود فایل مورد نظر نشدید با ما تماس بگیرید.

Title: Advanced Methods: Technological Frontiers and Embeddings — A Visualization Approach

Abstract

The chapter concerns the measurement and forecasting of technological change, a topic relevant to many high-tech organizations and their customers. We revisit recent and classic data sets from technology forecasting data envelopment analysis (TFDEA) research and technometrics in light of a new visualization technique known as t-Distributed Stochastic Neighbor Embedding (t-SNE). The technique is a nonlinear visualization technique for preserving local structure in high-dimensional spaces of data. The technique may be classified as a form of topological data analysis. Specifically, each point in the space represents a potential technological design or implementation, and each line segment in the space represents a local measure of technological improvement or degradation. We hypothesize six distinct kinds of performance development in technology within this space, including the frontier, the fold, the salient, the soliton, and the lock-in. Then we examine the spaces to determine which kinds of development are the best explanations for observed development. The technique is not extrapolative and therefore cannot fully supplant the existing technometric methods. Nonetheless the approach offers a useful diagnostic to the existing technometric methods and may help advance theories of technological development.